|

¨ç Ç׸¸¹°·ù°ü·Ã »ê¾÷ü¿ÍÀÇ R&D ¿¬±¸°ø°£À» È®º¸ÇÔÀ¸·Î½á Ç׸¸¹°·ù °ü·Ã »êÇÐÇù·Â Ȱ¼ºÈ
¨è RFID/EPC/Sensor Test CenterÀÇ È°¿ë?ÃËÁøÀ» ÅëÇÏ¿© Ç׸¸¹°·ùIT°ü·Ã R&D Áß½ÉÀ¸·ÎÀÇ Çü¼º
¨é ºÎ»ê Áö¿ª Àü·«»ê¾÷ÀÎ Ç׸¸¹°·ùIT¿Í °ü·ÃÇÑ »êÇаøµ¿¿¬±¸¼¾Å͸¦ ±¸ÃàÇÔÀ¸·Î½á ºÎ»ê´ëÇб³ÀÇ Æ¯¼ºÈ¿¡ À̹ÙÁöÇϸç, ºÎ»êÀÇ °ü·Ã »ê¾÷ü¿ÍÀÇ »êÇÐÇù·Â ÃËÁø
¨ê Ç׸¸ ¹°·ù °ü·Ã ±³À° ¹× ¼¼¹Ì³ª¸¦ ±âȹ À¯Ä¡ÇÔÀ¸·Î½á Ç׸¸¹°·ùIT Àü¹® Àη ¾ç¼º ÃßÁø

¨ç (ÁÖ)ÀΟ¿î : RFID ±â¹Ý ÀÚµ¿Â÷ ºÎǰ ¹°·ù ½Ã½ºÅÛ °³¹ß
¨è (ÁÖ)õÀϾÆÀÌ¿£¾¾ : ´Éµ¿Çü ű׸¦ À§ÇÑ RP ¹× RM ¸ðµâ °³¹ß
¨é ¸®Ä¡¿¤ : ÀÚµ¿È Å͹̳ο¡ »ç¿ëµÉ ÄÁÅ×ÀÌ³Ê Å͹̳Π¿î¿µ ÃÖÀûÈ ±â¼ú »ê¾÷È °³¹ß
¨ê (ÁÖ)Çѽ½ýºÅÛ : RFID ¹Ìµé¿þ¾î¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Á¶¼± ±âÀÚÀç °ü¸® ¼Ö·ç¼Ç ¿¬±¸ °³¹ß

¨ç »ç¾÷´Ü Âü¿© ¶Ç´Â °øµ¿¿¬±¸ »ê¾÷ü¸¦ À§ÇÑ R&D °øµ¿ ¿¬±¸ °ø°£ Áö¿ø
¨è ±â¼ú ¹× Àη Áö¿øÀ» ÅëÇÑ »ê¾÷üÀÇ »ç¾î´Ü °ü·Ã ÇÁ·ÎÁ§Æ® ¼öÇà Áö¿ø
¨é Ç׸¸¹°·ù °ü·Ã ±³À° ¹× ¼¼¹Ì³ªÀÇ ±âȹÀ¯Ä¡¸¦ ÅëÇÑ Ç׸¸¹°·ùIT Àü¹® Àη ¾ç¼º

¨ç R&D ¿¬±¸ °ø°£ Á¦°øÀ¸·Î °ü·Ã »ê¾÷ü ¿¬±¸¼Ò ¹× ¿¬±¸Àη Ȯº¸
¨è Ç׸¸¹°·ùIT Àü¹®Àη¾缺 ¹× ½Å±â¼ú °³¹ßÀ» ÅëÇÑ ±¹°¡°æÀï·Â °È
¨éÇ׸¸¹°·ù»ê¾÷ Áß½ÉÁö·Î ºÎ»ê´ëÇб³ ¹× ºÎ»ê½ÃÀÇ À̹ÌÁö Á¦°í

¨ç Ç׸¸¹°·ù »êÇÐ R&D °ø°£À» 20°³ ÀÌ»ó È®º¸ÇÏ¿© »êÇÐÇù·Â ¹× °øµ¿ ÇÁ·ÎÁ§Æ®¸¦ ¼öÇàÇÔÀ¸·Î½á ºÎ»ê Áö¿ªÀÇ Àü·«»ê¾÷ÀÎ Ç׸¸¹°·ù»ê¾÷ÀÇ R&D Áß½ÉÁö·Î½á ÀÚ¸®¸Å±èÇÏ¸ç »ó¿ëÈÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ±â¼úÀÌÀü ÃËÁø
|